電學性能測試

2.1、 VNA測試

VNA（vector network analyzer,矢量網絡分析儀）的信號源在測試時產生一個連續掃頻的正弦波，以此激勵被測物（DUT，device under test），之后測量DUT的反射信號和傳輸信號。VNA把被測物（無論是一條線、一個面或信號網絡）當做二端口網絡，由于其激勵信號是掃頻信號，在每一個頻點均可測得到被測端口的頻率相應，VNA通過分析這些激勵信號和響應信號，計算出被測端口S參數，再通過這些參數得到我們需要的量化參數值。

對于一個測試頻率范圍為20GHz的VNA，可以測試被測物從0到20GHz中間任何頻率點上的響應特性。

                         VNA中可觀測到的端口特性

TRL校準理念在于將線路的兩段各取一部分作為中間剩余部分線路量測的探針。

                                TRL校準圖形

2.2、SET2DIL測試

Single end trace to drive differential loss, 利用單端線路測量差分損耗的方法。此測試簡化量測，從而使傳統的差分四端口測試變為簡單的單端測試，并將此測試方法用于批量板的監控。

                        傳統差分測試需要四個端口同時量測