樣品失效區域進行X-Ray觀察，未發現明顯異常。

絕緣電阻測試，發現兩孔環之間有黑色異物搭連，阻值為168.74MΩ；膠帶將黑色異物粘貼后，阻值為1.3468GΩ，絕緣電阻明顯變大。

SEM觀察，發現PCB基材上有異物附著

EDS分析，發現異物及基材位置有“Cu”異常元素。

結果：孔環之間的基材表面含銅物質污染及油墨開裂現象，導致在CAF試驗的高溫高濕環境下，兩孔環的絕緣電阻下降，導致此次 CAF試驗絕緣阻值異常。